Японские фирмы проведут в ЮУрГУ семинар

На семинаре будут представлены доклады специалистов фирмы «Jeol» о новых разработках в области растровой и просвечивающей электронной микроскопии, рациональных и эффективных методов использования установленной техники, новых приемах и методах проведения исследований.

Так же будет продемонстрирован опыт работы на растровом электронном микроскопе «Jeol» JSM-6460LV, имеющим три аналитические приставки: энергодисперсионную (EDC), волновую дисперсионную (WDC), дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD).

Желающие могут привезти с собой небольшое количество образцов для пробного анализа. Образцы для анализа должны представлять собой твердые вещества, имеющие чистые поверхности изломов, либо полированные поверхности. Образцы для определения степени текстурирования должны быть изготовлены в виде отшлифованных и травленных фольг. Размер образцов – порядка один сантиметр во всех измерениях, возможность отклонения в одном из измерений на 2-5 мм.

Семинар рассчитан на специалистов в области электронной микроскопии, аспирантов, студентов старших курсов материаловедческих специальностей, научных сотрудников и организаторов научных исследований.

Начало работы семинара в 10.00 в аудитории 1010 главного учебного корпуса ЮУрГУ, проспект Ленина, 76, телефон для связи (351) 267-93-11